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| 研究生： |
曾柏諺 Zeng, Bo-Yan |
|---|---|
| 論文名稱： |
跨製程電晶體電性參數預測：信心加權偽標籤方法 Cross-Process Transistor Electrical Parameter Prediction via Confidence-Guided Pseudo-Labeling |
| 指導教授： |
解巽評
Hsieh, Hsun-Ping |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 論文出版年： | 2026 |
| 畢業學年度： | 114 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 57 |
| 相關次數： | 點閱：29 下載：0 |
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2031-06-26公開