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| 研究生： |
魏名駿 Wei, Ming-Chun |
|---|---|
| 論文名稱： |
SMART-WAT: 用於補全晶圓允收測試數據的自動化機器學習和高斯回歸空間建模技術 SMART-WAT: Spatial Modeling with Automated Machine Learning and Gaussian Regression Techniques for Imputing Wafer Acceptance Test Data |
| 指導教授： |
解巽評
Hsieh, Hsun-Ping |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 論文出版年： | 2023 |
| 畢業學年度： | 111 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 32 |
| 相關次數： | 點閱：85 下載：0 |
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校內：2028-07-24公開校外：2028-07-24公開