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研究生: 陳昱翔
Chen, Yu-Hsiang
論文名稱: 低溫下陷阱效應與背閘偏壓對低功耗超薄基體全空乏SOI電晶體直流及射頻特性之影響
Impact of Trap Effects and Back-Gate Bias on DC and RF Characteristics of Cryogenic Ultra-Thin Body Fully Depleted SOI MOSFETs
指導教授: 江孟學
Chiang, Meng-Hsueh
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 微電子工程研究所
Institute of Microelectronics
論文出版年: 2026
畢業學年度: 114
語文別: 英文
論文頁數: 114
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