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研究生: 劉仁忠
Lautan, Theovin
論文名稱: 雙階段深度神經網路應用於遮蔽晶圓圖分群與分類之測試序列效應分析
Clustering and Classifying Masked Wafer Bin Maps with Two-Stage Deep Neural Network by Analyzing the Impact of Testing Sequences
指導教授: 鄭順林
Jeng, Shuen-Lin
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 管理學院 - 數據科學研究所
Institute of Data Science
論文出版年: 2025
畢業學年度: 113
語文別: 英文
論文頁數: 99
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  • 無法下載圖示 校內:2030-06-30公開
    校外:2030-06-30公開
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