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研究生: 郭志忠
Kuo, Chih-Chung
論文名稱: TFT-LCD自動光學檢測-以Cell Zone為基礎之瑕疵分類研究
TFT-LCD Automated Optical Inspection - Defect classification base on cell zone
指導教授: 王明習
Wang, Ming-Shi
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 工程科學系碩士在職專班
Department of Engineering Science (on the job class)
論文出版年: 2008
畢業學年度: 96
語文別: 中文
論文頁數: 55
中文關鍵詞: 瑕疵分類Cell Zone薄膜電晶體自動光學檢測
外文關鍵詞: Automated Optical Inspection, Cell Zone, Defect Classification, Thin-Film Transistor Liquid
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  • 近年來隨著 TFT-LCD 產業應用在大尺寸消費性產品(主要為LCD-TV)成長快速,面板廠商相繼投入更大尺寸的廠房,以提高產能及應用尺寸規格。以面板之瑕疵檢測流程來看,尺寸越大的玻璃基板,檢測所花費時間勢必會更多,而檢測後之瑕疵分類及判斷面板是否需要修補、重製、報廢及直接往下一個製程繼續後製工作,為瑕疵檢測檢測最主要之目的。
    本論文主要討論的是在薄膜電晶體(Thin-Film Transistor,TFT)製程的瑕疵檢測,以瑕疵的部分是否落在面板之電路區域上為思考方向,將面板上重複之電路區域,稱之為Cell,劃分為幾個區域,瑕疵所在之區域稱為Cell Zone,因為每個區域內所包含的內容不盡相同,因此在不同區域內若被檢測出有瑕疵存在,其後續處理對策也會隨之不同。本論文以Cell Zone作為瑕疵分類的主要特徵值,加上瑕疵大小的特徵值來作瑕疵分類標準,實作出一套瑕疵分類系統,再以分類結果來判斷面板的等級,提供面板下一步動作是要作修補、重製、報廢或直接往下一個製程的依據。瑕疵自動分類亦可提升以人工方式分類的效率和人為的誤判率。

    In recent years, TFT-LCD(Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Display) is grown up quickly at the application of consumer product, like LCD-TV. The manufacturer have invested larger plants, to provide more capacity and application sizes. For defect detection process, the greater the size of glass substrate, the detecting time more. After the inspection, the defect classification and panel judgment is decided the next process for repair, rework, scrap or pass to next layer process. This is the main purpose for defect inspection.
    The purpose of this research is the defect inspection of Thin-Film Transistor(TFT) process, the defect detection on the regional circuit for thought. Cell is the circuit of panel repeat of the region. It is divided into several regions, the region of the defect known as the Cell Zone. Each region have different contents. In different regions, if detected There are defects, its follow-up measures will also deal with different. This research base on Cell Zone to classify as defects in the main features of value, coupled with the size of defects to be defect classification criteria. And using the results to determine the panel for the next process is to repair, rework, scrap or pass to next layer process. Defects can be automatically classified to artificially enhance the efficiency and classification of human misjudgment rate.

    第一章 緒論…………………………………………………………1 1.1 前言……………………………………………………………1 1.2 研究動機及目的………………………………………………1 1.3 本文大綱………………………………………………………2 第二章 研究理論與方法……………………………………………3 2.1 薄膜電晶體之瑕疵類別………………………………………3 2.2 瑕疵檢測設備及流程…………………………………………4 2.2.1 AOIL設備主要硬體架構……………………………………4 2.2.2 AOIL設備主要軟體系統……………………………………7 2.2.3 AOI檢測流程…………………………………………………8 2.3 Cell Zone 定義………………………………………………10 第三章 系統架構及模型……………………………………………12 3.1 系統流程圖……………………………………………………12 3.2 瑕疵檢測資料收集及資料庫設計……………………………13 3.2.1 資料庫表格定義……………………………………………14 3.2.2 資料收集及轉檔……………………………………………17 3.3 瑕疵分類系統設計……………………………………………18 3.3.1 系統功能說明………………………………………………19 3.3.2 硬體設備及網路架構………………………………………21 第四章 系統實作結果及效能分析…………………………………23 4.1 瑕疵分類系統…………………………………………………23 4.1.1 瑕疵分類設定(Defect Classification Setting)………23 4.1.2 Panel等級判斷設定(Panel Judgment Setting)…………25 4.1.3 瑕疵分類系統(Defect Classification System)………26 4.2 實驗一…………………………………………………………27 4.3 實驗二…………………………………………………………32 4.4 系統效能分析…………………………………………………36 第五章 結論…………………………………………………………38 5.1 結論……………………………………………………………38 5.2 未來展望………………………………………………………39 參考文獻………………………………………………………………40 附錄A 檢測流程及方法………………………………………………42

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    [2]http://tomcat.apache.org/tomcat-5.5-doc/index.html
    [3]http://www.postgresql.org/files/documentation/pdf/8.3/postgresql-8.3-A4.pdf
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    下載圖示 校內:2010-08-28公開
    校外:2010-08-28公開
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