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| 研究生： |
李紘維 LEE, HUNG-WEI |
|---|---|
| 論文名稱： |
YELD：機器學習導向之半導體缺陷補植與良率提升架構 YELD : A Yield Enhancement Framework Based on Machine Learning for Semiconductor Defect Imputation |
| 指導教授： |
解巽評
Hsieh, Hsun-Ping |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
智慧半導體及永續製造學院 - 半導體製程學位學程 Program on Semiconductor Manufacturing Technology |
| 論文出版年： | 2025 |
| 畢業學年度： | 113 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 45 |
| 相關次數： | 點閱：25 下載：0 |
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校內：2030-08-21公開校外：2030-08-21公開