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研究生: 黃湘晴
Huang, Shiang-Ching
論文名稱: 運用TCAD模擬分析陷阱電荷對FinFET與NSFET電性與變異度之影響
TCAD Simulation and Analysis of the Impact of Trap Charges on the Electrical Characteristics and Variability of FinFETs and NSFETs
指導教授: 江孟學
Chiang, Meng-Hsueh
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 微電子工程研究所
Institute of Microelectronics
論文出版年: 2025
畢業學年度: 113
語文別: 英文
論文頁數: 90
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    校外:2028-07-23公開
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