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| 研究生： |
曹舒維 Tsao, Shu-Wei |
|---|---|
| 論文名稱： |
以深度神經網路模型探討具批次生產和檢測次序效應之晶圓圖缺陷型態分類 The defect pattern classification of wafer bin map with effects of batch manufacturing and testing sequence by deep neural network |
| 指導教授： |
鄭順林
Jeng, Shuen-Lin |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
管理學院 - 統計學系 Department of Statistics |
| 論文出版年： | 2021 |
| 畢業學年度： | 109 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 98 |
| 相關次數： | 點閱：117 下載：0 |
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校內：2027-04-06公開校外：2027-04-06公開