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研究生: 楊宸維
Yang, Chen-Wei
論文名稱: 金屬積層製造之逐層品質評估與製程異常檢測方法
Layer-by-layer quality estimation and process anomaly detection methods for metal additive manufacturing
指導教授: 鄭芳田
Cheng, Fan-Tien
共同指導教授: 楊浩青
Yang, Haw-Ching
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機資訊學院 - 製造資訊與系統研究所
Institute of Manufacturing Information and Systems
論文出版年: 2022
畢業學年度: 110
語文別: 中文
論文頁數: 37
中文關鍵詞: 全自動虛擬量測長短期記憶模型自編碼器
外文關鍵詞: Automatic Virtual Metrology, Long Short-Term Memory, Auto-Encoder
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