研究生: |
楊宸維 Yang, Chen-Wei |
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論文名稱: |
金屬積層製造之逐層品質評估與製程異常檢測方法 Layer-by-layer quality estimation and process anomaly detection methods for metal additive manufacturing |
指導教授: |
鄭芳田
Cheng, Fan-Tien |
共同指導教授: |
楊浩青
Yang, Haw-Ching |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
電機資訊學院 - 製造資訊與系統研究所 Institute of Manufacturing Information and Systems |
論文出版年: | 2022 |
畢業學年度: | 110 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 37 |
中文關鍵詞: | 全自動虛擬量測 、長短期記憶模型 、自編碼器 |
外文關鍵詞: | Automatic Virtual Metrology, Long Short-Term Memory, Auto-Encoder |
相關次數: | 點閱:151 下載:0 |
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