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研究生: 劉光華
Liu, Kuang-Hua
論文名稱: 應用先期產品品質規劃於液晶顯示器驅動晶片封裝測試之新產品導入
Apply the Advance Product Quality Planning for new product introduction of Liquid Crystal Display Drive IC assembly and testing
指導教授: 張守進
Chang, Shoou-Jinn
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 工學院 - 工程管理碩士在職專班
Engineering Management Graduate Program(on-the-job class)
論文出版年: 2008
畢業學年度: 96
語文別: 中文
論文頁數: 57
中文關鍵詞: 封裝半導體先期產品品質規劃驅動IC
外文關鍵詞: Advanced Product Quality Plan, Semiconductor, Assembly, Drive IC
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  • 半導體產業產品的世代交替是很頻繁,新產品導入量產的成功與否會影響公司的利潤及成長,隨著液晶顯示器的普及率提升,液晶面板驅動IC的需求也開始不斷增加,因此,如何利用公司內部資訊系統提供的資源,配合客戶的生產需求,規劃一個合理及具品質保證的新產品導入量產之計劃,就變成一很重要的課題。在全球化的經濟中,快速反應的生產方式可取得相對的生產優勢,並配合客戶多樣化的需求,達到更快的量產品質速度,如此才能不斷的保有競爭優勢。
    本研究的目的,即是針對半導體後段的液晶面板驅動IC封裝測試生產製造建立一先期產品品質規劃資訊系統以協助新產品之導入量產。

    The product changes of semiconductor industry are very frequently, the new product introduce success or fail will effect the company profit and growth. Accompany the more popularize of Liquid Crystal Display the needed Liquid Crystal Display panel driver IC is increased. So how to use the company internal resource of IT system to match customer production request and plan a reasonable with quality insurance new product introduce to mass production will become a important item. In a globalization economy, the quickly active production can get good produce superiority to match customer diversification needed and get quick mass production quality speed. With this it can keep a good competed advantage.
    The purpose of this research is to set-up Advanced Product Quality Plan system at Liquid Crystal Display driver IC assembly and testing to introduce product to mass production.

    目 錄 中文摘要……………………………………………………………… I ABSTRACT………………………………………………………………II 誌謝………………………………………………………………… III 目錄……………………………………………………………………IV 表目錄……………………………………………………………… VII 圖目錄……………………………………………………………… VIII 第一章 緒論……………………………………………………………1 1.1 研究背景與動機………………………………………………1 1.2 研究目的………………………………………………………2 1.3 研究範圍與假設………………………………………………2 1.4 研究內容與流程………………………………………………2 第二章 相關資料與文獻探討…………………………………………4 2.1 先期產品品質規劃……………………………………………4 2.1.1 先期產品品質規劃的定義………………………………4 2.1.2 先期產品品質規劃的基本原則…………………………4 2.1.3 先期產品品質規劃的流程………………………………7 2.1.4 先期產品品質規劃的輸入與輸出………………………8 2.2 液晶驅動晶片產品特性及應用………………………………11 2.3 案例公司封裝生產流程………………………………………13 第三章 案例公司TCP & COF液晶面板驅動IC封裝測試先期產品品質規劃系統建建構………………………………………………………14 3.1 TCP&COF液晶面板驅動晶片構裝……………………………14 3.2 先期產品品質規劃表單及查檢表設計……………………17 3.2.1 第一階段:新產品導入與可行性評估…………………17 3.2.2 第二階段:產品設計與開發驗證………………………22 3.2.3 第三階段:製程設計開發驗證…………………………24 3.2.4 第四階段:產品及製程確認……………………………31 3.2.5 第五階段:回饋評鑑及矯正措施………………………34 3.3 先期產品品質規劃系統設計及建立……………………………36 第四章 案例公司先期產品品質規劃系統應用實例…………………38 4.1 第一階段:新產品導入與可行性評估………………………38 4.2 第二階段:產品設計與開發驗證……………………………42 4.3 第三階段:製程設計開發驗證………………………………44 4.4 第四階段:產品及製程確認…………………………………49 4.5 第五階段:回饋評鑑及矯正措施……………………………51 第五章 結論與建議……………………………………………………53 5.1 結論……………………………………………………………53 5.2 建議……………………………………………………………53 參考文獻………………………………………………………………55 表 目 錄 表2-1 液晶驅動晶片應用……………………………………………12 表3-1 新產品導入申請單……………………………………………18 表3-2 新產品導入時程規劃表………………………………………19 表3-3 可行性評估查檢表……………………………………………21 表3-4 設計評估及驗證查檢表………………………………………23 表3-5 封裝工程部門查檢表…………………………………………26 表3-6 QRA部門查檢表(QA spc control/QC包含IQC/QE)…………27 表3-7 Sales部門查檢表.……………………………………………28 表3-8 ITM部門查檢表(MK rule/label rule/relate report support)………………………………………………………………29 表3-9 SEM部門查檢表………………………………………………30 表3-10 量產同意書……………………………………………………33 表3-11 終止新產品需求表……………………………………………35 圖 目 錄 圖1-1本研究流程架構圖………………………………………………3 圖2-1APQP流程圖………………………………………………………7 圖2-2 液晶驅動晶片構裝方式及模組廠接合方式…………………11 圖2-3 液晶面板及驅動晶片示意圖…………………………………12 圖2-4 TCP/COF與記憶體IC封裝流程比較示意圖……………………13 圖3-1 液晶驅動晶片上視圖與剖視圖-TCP…………………………15 圖3-2 液晶驅動晶片上視圖與剖視圖-COF…………………………16 圖3-3 Notes上APQP選項………………………………………………36 圖3-4 系統選擇畫面…………………………………………………36 圖3-5 APQP系統主畫面………………………………………………37 圖4-1 新產品導入申請單畫面………………………………………38 圖4-2可行性查檢表畫面-1……………………………………………39 圖4-3可行性查檢表畫面-2……………………………………………40 圖4-4新產品時程規劃表畫面…………………………………………41 圖4-5第二階段查檢表畫面……………………………………………42 圖4-6第二階段產品設計人員查檢表畫面……………………………43 圖4-7第二階段封裝工程及測試工程查檢表畫面……………………43 圖4-8第三階段產品設計查檢表畫面…………………………………45 圖4-9第三階段專案工程查檢表畫面…………………………………45 圖4-10第三階段封裝工程查檢表畫面………………………………46 圖4-11第三階段封裝設備查檢表畫面………………………………46 圖4-12第三階段測試工程查檢表畫面………………………………46 圖4-13第三階段測試設備查檢表畫面………………………………46 圖4-14第三階段品質管制查檢表畫面………………………………47 圖4-15第三階段聘質保證查檢表畫面………………………………47 圖4-16第三階段系統分析管理查檢表畫面…………………………47 圖4-17第三階段資訊技術查檢表畫面………………………………47 圖4-18第三階段業務查檢表畫面……………………………………48 圖4-19第四階段封裝製程查檢表畫面………………………………49 圖4-20第四階段測試工程查檢表畫面………………………………50 圖4-21第四階段專案工程查檢表畫面………………………………50 圖4-22第四階段品質工程查檢表畫面………………………………50 圖4-23量產同意書畫面………………………………………………51 圖4-24測試工程量產查檢表畫面……………………………………52 圖4-25專案工程量產查檢表畫面……………………………………52 圖4-26品質工程量產查檢表畫面……………………………………52

    中文部份
    1.王祿旺譯,今日管理學,新陸書局,台北,2003。
    2.王國金聿,液晶面板驅動IC內引腳接合製程生產排程支援系統建構,成功大學工學院工程管理碩士論文,2007
    3.平林良人(先鋒企管譯),ISO9000內部品質稽核進行方法,和昌出版社,桃園,1996
    4.呂傳勝,QS9000應用技術手冊,科建管理顧問股份有限公司,桃園,1998。
    5.呂傳勝,QS9000品質系統要求,科建管理顧問股份有限公司,桃園,1998。
    6.徐世輝,全面品質管理,華泰文化,台北,1999
    7.徐世輝,品質管理,三民書局,台北,1999
    8.張耀仁&劉永信,電子商務系統,高立圖書,台北,2000
    9.澎政文,以ISO9001:2000探討品質改善流程之模式-以製造業為例,中原大學碩士論文,2000
    英文部份
    1.John H. Lau,Handbook of tape automated bonding,Van Nostrand Reinhold,New York,1992
    2.黃元璋,LCD Packaging Technology,ITRI/ERSO,Shinchu,2002
    3.蔡嘉益,LCD driver IC Assembly and Testing Technology,ChipMOS,Tainan,2001
    網站部分
    1.工業技術研究院,http://www.itri.org.tw/chi/index.jsp
    2.南茂科技股份有限公司,http://www.chipmos.com
    3.電子時報網站,http://www.digitimes.com.tw
    4.ELSEVIER研究機構,http://www.elsevier.com
    5.Displaysearch研究機構,http://www.displaysearch.com

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