| 研究生: |
吳晉坤 Wu, Chin-Kun |
|---|---|
| 論文名稱: |
銦鋅氧化物(IZO)透明導電薄膜應用於高功率GaN基LED之研究 The Study of High Power GaN-Based LEDs with Transparent Indium-Zinc-Oxide Films |
| 指導教授: |
王水進
Wang, Shui-Jinn |
| 學位類別: |
碩士 Master |
| 系所名稱: |
電機資訊學院 - 微電子工程研究所 Institute of Microelectronics |
| 論文出版年: | 2004 |
| 畢業學年度: | 92 |
| 語文別: | 中文 |
| 論文頁數: | 59 |
| 中文關鍵詞: | 銦鋅氧化物 、透明導電薄膜 |
| 外文關鍵詞: | IZO, GaN-Based LEDs |
| 相關次數: | 點閱:105 下載:19 |
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本論文旨在針對氮化鎵發光二極體(GaN-based Light Emitting Diodes,GaN-based LEDs)進行大面積結構設計,嘗試找出一具高輸出光功率及高流明通量之LED製程技術,並深入探討具有優越電流擴展(Current spreading)能力之透明導電材料銦鋅氧化物(IZO)應用於不同面積與電極設計之GaN基LED時,對其光電特性改善效應,並以之進行高功率、高亮度GaN基LED之研製。
於本研究中,所採用IZO薄膜係利用射頻濺鍍系統(Radio-Frequency Magnetron sputtering system)進行沉積成長。經針對所得薄膜進行光學與電性分析並藉由濺鍍參數之適當調變,於室溫下利用下列製程參數:以120瓦射頻功率,通入流量20 sccm的純氬氣,反應腔壓力維持在5×10-3 Torr,於11分22秒的濺鍍時間下,可得到厚度約3000Å,最佳電阻率為3.410-4 Ω-cm,在藍光波長區間(465 - 475 nm)平均穿透率為90%以上之IZO薄膜,且經由霍爾(Hall)量測結果顯示所得IZO薄膜為一n型高濃度透明導電材料。
於元件應用方面,係利用IZO薄膜作為GaN基LED之透明導電層(TCL)以增加其發光效率。由於IZO/p-GaN之接觸特性為蕭基接觸,我們使用熱處理過後之氧化-鎳(25Å)/金(45Å)薄金屬層作為IZO薄膜與p-GaN間的中介層,實驗結果顯示將p-GaN/氧化-鎳/金作適當熱處理後,再於其上成長IZO薄膜,將可獲得良好的歐姆接觸特性。
本實驗將IZO薄膜應用於GaN基LED,且與傳統氧化-鎳/金層作TCL的製程相比較,得到在LED面積1.5 1.5 mm2,p-GaN/氧化-鎳(25Å)/金(45Å)與IZO(3000Å)製程,於350 mA工作電流條件下,分析其光輸出功率(LOP)對電流的特性具有62.12%之改善,且發現在IZO透明導電材料的應用之下,隨著LED元件設計面積的增加,其LOP改善幅度較傳統使用氧化-鎳/金層作TCL製程更為顯著。
In this thesis, the fabrication and characteristics of large-area (0.6 0.6 mm2 ~ 1.51.5 mm2) high power GaN-based LEDs with an IZO overlay are presented. The effectiveness of IZO TCL for high power LEDs with different sizes and electrode designs was investigated. Indium-Zinc-Oxide (IZO) films were prepared by RF magnetron sputtering system. By suitably adjusting the deposition condition, the IZO film with thickness of 300 nm has an optimum resistivity of 3.410-4 Ω-cm and an average transparency above 90% in blue light range (465 – 475 nm). Our experimental results indicate that, for the LEDs with oxidized-Ni(2.5 nm)/Au(4.5 nm) contact to p-GaN under an injection current of 350 mA, the use of a 300-nm-thick IZO layer resulting in about 62.12% improvement in Lop has been achieved.
1. Robert F.Davis, proceedings of the IEEE, Vol.79, No.5, pp.702-712, 1991.
2. S.N.Mohammad, Arnel A.Salvador, and Hadis Morkoc, proceedings of the IEEE, Vol.83, No.10, pp.1306-1355, 1995.
3. S.Nakamura, M.Senoh, S.Nagahama, N.Iwasa, and T.Matsushita, et al., Appl.Phys.Lett., Vol.72, pp.211, 1998.
4. Pleun Maaskant, Mahbub Akhter, John Lambkin, and Laurence Considine, IEEE Trans. Electron Devices, Vol.48, No.8, pp.1822-1825, 2001.
5. 顧鴻壽, 光電有機電激發光顯示器技術及應用, 新文京開發出版有限公司, pp.133-140, 2002.
6. Y.C.Lin, S.J.Chang, Y.K.Su, et al., Solid State Electron., Vol.47, pp.1565-1568, 2003.
7. 林文偉, 郭豔光, 劉柏挺, Zincblende 結構三元氮化物的能帶模擬與分析 , 物理雙月刊, 第二十五卷, 第四期, pp.584, 2003.
8. Martinez, M A. Herrero, and J. Gutierrez, M T, Solar Energy Materials & Solar Cell., Vol. 45, No 1, Jan 1, pp.75-86, 1997.
9. 李玉華, 透明導電膜及其應用, 科儀新知, 第十二卷, 第一期, pp.94-101, 1990.
10. K. Tominaga, et al., Vacuum 59, pp.546-552, 2000.
11. Tadatsugu Minami, J. Vac. Sci. Technol. A, Vol. 17, No 4, Jul/Aug, pp.1765-1772, 1999.
12. Tadatsugu Miniami, J. Vac. Sci. Technol. A, Vol. 14, No 3, May/Jun, pp.1704-1708, 1996.
13. Julia M. Philips, et al., Appl. Phys. Lett. 67(15), 9 October, pp. 2246-2248, 1995.
14. T. Minami, et al., J. Vac. Sci. Technol. A, Vol. 15, No 3, May/Jun, pp.1069-1073, 1997.
15. 史國光, 現代半導體發光及雷射二極體材料技術進階篇, 全華科技圖書股份有限公司, pp.2-1, 2004.
16. 陳學龍, IZO透明金屬薄膜之研製及其在GaN基LED之應用研究, 國立成功大學微電子工程研究所碩士論文, 2003.
17. 羅丞曜, 銦鋅氧化膜基本特性及其與氮化鎵接觸應用之研究, 國立中央大學光電科學研究所碩士論文, 2001.