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| 研究生： |
楊瓊蓉 Yang, Chiung-Jung |
|---|---|
| 論文名稱： |
應用堆疊集成方法與數據增強技術於晶圓圖缺陷分類之研究 Wafer Map Defect Classification Using Stacking Ensemble Learning and Data Augmentation Method |
| 指導教授： |
謝孫源
Hsieh, Sun-Yuan |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機資訊學院 - 資訊工程學系 Department of Computer Science and Information Engineering |
| 論文出版年： | 2024 |
| 畢業學年度： | 112 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 71 |
| 相關次數： | 點閱：24 下載：0 |
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校內：2029-08-07公開校外：2029-08-07公開