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| 研究生： |
蘇鈺雯 Su, Yu-Wen |
|---|---|
| 論文名稱： |
影像比對與物件定位及分類技術之自動光學檢測計量法-應用於印刷電路板與晶圓瑕疵 Metrology of Automatic Optical Inspection By Image Comparison, Object Localization and Classification-Applications in Printed Circuit Boards and Wafers |
| 指導教授： |
何青原
Ho, Ching-Yuan |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
工學院 - 機械工程學系 Department of Mechanical Engineering |
| 論文出版年： | 2025 |
| 畢業學年度： | 113 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 133 |
| 相關次數： | 點閱：4 下載：0 |
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校內：2028-07-22公開校外：2028-07-22公開